Samsung Galaxy S7:n suorituskyky tippuu peräti 25 % pidemmässä rasituksessa
Älypuhelinten suorituskyvyn heikkeneminen rasituksessa ei ole enää mikään uusi ilmiö, mutta Samsungin tuoreen Galaxy S7:n kohdalla suorituskyvyn tippuminen näyttäisi olevan poikkeuksellisen rajua. NordicHardware (Google Translate) ajoi testit Galaxy S7:n Exynos 8890 -versiolla, eikä vastaavia testejä Snapdragon 820 -versiolla ole tällä haavaa saatavilla.
NordicHardware asetti testejään varten Galaxy S7:n vaahtomuovin varaan siten, että suurin osa puhelimen takapuolesta sai hengittää vapaasti. Ulkoinen lämpötilamittari asetettiin puhelimen takapuolelle paikkaan, jossa etusormi lepäisi tyypillisen käyttäjän käsissä. Sen tuloksia vertailtiin testiohjelman raportoimiin lämpöihin virheiden välttämiseksi. Suorituskykytestit ajettiin Futuremarkin 3DMark Slingshot -testiohjelman OpenGL ES 3.1 -versiolla. Pidempiaikaista rasitusta simuloitiin ajamalla testi viisi kertaa peräkkäin.
Ensimmäisellä testiajolla puhelimen lämpötilaksi raportoitiin 30 astetta, ja suorituskyvyksi varsin vakuuttavat 2200 pistettä. Toisella ajolla lämmöt nousivat 35 asteeseen, ja tulos laski maltillisesti 2166 pisteeseen. Kolmannesta ajosta eteenpäin puhelimen lämpörajat tulivat vastaan, ja ne pysyivät 38 asteessa. Suorituskyky sen sijaan ei pysynyt enää paikoillaan, vaan kolmannen ajon vielä varsin hyvän 2119 pisteen tuloksen jälkeen ne laskivate ensin 1926 pisteeseen ja siitä viidennellä ajolla 1571 pisteeseen. Ensimmäisen ja viidennen ajon välillä suorituskyky laski siis noin 25 %, mitä voidaan pitää hyvin merkittävänä erona.
